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太阳能组件工厂实训系统V-ETZ1000C

所属分类:


产品概要:

太阳能组件生产系统组成:单片EL测试、电池片分选、 划片机、单焊台、串焊台、层叠台、EL测试仪、层压机、修边 装框机、叠层台、组件测试仪、修复台等。

关键词:

碳中和系统  |  能源互联网系统  |  智能微网系统

产品详情

 

 

可完成实训内容:

◎ 实训一、实现对太阳能组件原材料的认识

◎ 实训二、掌握太阳能电池组件生产的设备工艺流程

◎ 实训三、掌握太阳能电池组件生产的加工工艺流程

◎ 实训四、太阳能生产设备的使用

◎ 实训五、实现太阳能电池组件光电性能检测

◎ 实训六、掌握太阳能电池组件质量因素的检测

 

部分仪器展示

四探针

数字式四探针测试仪是半导体材料的电阻性能测量 设备。仪器由主机、测试台、四探针探头等部分组 成,测量数据既可由主机直接显示,加以分析,然后 以表格,图形方式统计分析显示。

◆ 测量范围:电阻率:0.0001~2000Ωcm(可扩展) 方块电阻:0.001~20000Ω(可扩展) 电导率:0.0005~10000s/cm 电阻:0.0001~2000Ωcm

◆ 模拟电阻测量相对误差:小于等于0.3%±1字

◆ 恒流源:电流量程分为0.1mA、1mA、10mA、100mA 四档,各档电流连续可调

 

少子寿命

◆ 少子寿命测试仪配备有红外光源,可测量包括硅块、 硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅片等的少子寿 命及锗单晶的少子寿命。

◆ 高频振荡源:用石英谐振器,振荡频率:30MHz

◆ 前置放大器:放大倍数约25,频宽2 Hz-1 MHz

◆ 测量方式:采用对标准曲线读数方式

◆ 仪器测试精度:≤±0.5% ◆ 可测少子寿命范围:0.1μS~7000μS

◆ 测试电阻率范围:≥0.1Ωcm 可扩展到 0.01Ωcm

◆ 配备光源类型:波长:980±30nm

 

PN级测试

◆ 导电类型鉴别仪采用整流法和温差法来判断单晶 (或多晶)硅的导电类型(N型或P型),显示屏直接显 示导电类型。

◆ 可判断硅材料的电阻率范围: 温差法:10-4 Ω·cm~104 Ω·cm 整流法:10-2 Ω·cm~104 Ω·cm

◆ 显示方式:用N型和P型显示屏直接显示 ◆ 探头:整流法:采用三根探针,采用碳化钨针; 温差法:采用冷热两根探笔,探笔材料为钨棒,热笔 采用PTC发热体加热

 

椭偏仪

多角度激光椭偏仪 使用 632.8nm 波长 HeNe 激光 器,对测量薄膜厚度,折射率和吸收系数有非常出色 的精度。 能够分析单层膜,多层膜和大块材料(基 底)。

◆ 自动对准镜/显微镜,用于样品校准 ◆ 以太网接口连接到PC

◆ 高精度样品校准,使用光学自动对准镜和显微镜

◆ 多角度测量,可完全支持复杂应用和精确厚度

◆ 快速简易测量,可选择不同的应用模型和入射角度

◆ 应用包含:微电子、光电、磁存储、生命科学等领域